英铂科学仪器面向半导体研发、制造与检测客户提供HANWA ESD测试设备及配套技术服务，产品覆盖HBM、MM、CDM、Latch-up、TLP及晶圆级ESD测试场景，帮助客户提升静电可靠性验证效率，降低器件失效与量产质量风险。
随着汽车电子、功率半导体、存储芯片和先进封装技术持续发展，器件集成度、工作电压与测试复杂度不断提升。传统ESD测试在多引脚并行、晶圆级自动化、国际标准兼容和数据追溯方面面临更高要求。针对上述痛点，英铂科学仪器依托HANWA测试设备产品矩阵，为高校、科研院所、芯片设计企业、晶圆制造企业及第三方实验室提供从设备选型、系统集成到安装培训和售后维保的一站式服务。
在封装级静电测试方面，HANWA G5000最高支持2048 pin，搭载无继电器GNC模组，可减少寄生电容对测试结果的影响，支持JEDEC、ESDA、AEC和JEITA等国际标准波形，适用于高引脚数器件的静电破坏检测。HANWA C5000R全自动CDM测试仪支持最高4kV测试电压，兼容JS-002、JEDEC、ESDA及AEC等规范，可对器件各端子的充放电能力进行测试，并将数据保存为文本文件。
在TLP与功率器件测试方面，HANWA T5000支持100ns/200ns常规TLP和脉宽低至1ns的VF-TLP测试，可用于分析器件抗静电能力、ESD设计窗口及功率器件SOA特性。设备支持与半自动探针台连接，并可在晶圆级完成管脚或芯片间自动移位，适用于ESD保护电路开发、可靠性验证及失效分析。
针对晶圆级测试需求，HANWA W5000M可覆盖从LED到系统LSI的大口径晶圆，支持HBM和MM放电测试，并依据漏电流结果判断Pass/Fail。设备符合JEITA、ESDA和JEDEC相关规范，可在晶圆级实时捕获HBM波形，并支持与TLP测试设备组合使用，帮助客户提前识别保护电路参数，减少封装后返工和失效风险。HANWA S5000R支持最高256 pin，可用于HBM、MM及Latch-up测试；HANWA HCE-5000则采用便携式设计，无需外接PC即可完成HBM、MM及漏电测试，适合功率半导体器件和少管脚IC的实验室验证。
英铂科学仪器已服务高校、科研院所、半导体制造企业及检测实验室等多类客户，具备全国8个售后服务网点，可提供设备安装调试、操作培训、年度维保、故障维修及测试方案设计。对于晶圆级ESD、封装级CDM、高压功率器件及多引脚芯片等复杂场景，英铂科学仪器可结合探针台、源表、TLP及其他精密仪器，完成测试系统的选型与集成，提升测试数据的一致性和实验室设备利用率。
英铂科学仪器成立于上海，专注于半导体晶圆级电性能测试、微纳米精密表征与极低温磁场测试设备领域。公司拥有3000平方米自有厂房，在北京、深圳设有办事处，并在全国布局8个售后服务网点。英铂科学仪器提供自研高低温探针台、冷热台、热氮机等设备，同时代理MPI、HANWA、Polytec、OKMETIC、KLA、Focus microwaves等品牌精密测试仪器，累计服务合作客户超过2000家，致力于为高校、科研院所、芯片企业和检测实验室提供覆盖售前、售中与售后的精密测试整体解决方案。