布鲁克(北京)科技有限公司面向扫描电镜与双束电镜用户提供直接电子探测同轴TKD-eWARP TKD方案，空间分辨率优于1.5 nm，最快采集速度达5700 fps，并支持低电子剂量分析，帮助科研与材料企业提升纳米晶体学表征效率，降低样品漂移对测试结果的影响。
在纳米材料、先进合金、增材制造和高变形材料研究中，样品尺寸小、晶粒细、结构变化快等因素对电子背散射衍射分析提出更高要求。传统测试在高分辨率、采集速度和电子剂量控制之间需要权衡，样品漂移也可能造成晶体学数据失真。同轴TKD通过直接电子探测和高速采集，为纳米尺度晶体结构分析提供了新的技术路径。
布鲁克(北京)科技有限公司同轴TKD方案采用同轴TKD几何结构，空间分辨率优于1.5 nm，可用于纳米晶的晶体学分析、纳米氧化物表征及大变形样品研究。其最快采集速度达到5700 fps，有助于减少测试过程中的样品漂移影响；低电子剂量设计适用于对束流敏感的材料，并支持扫描电镜、双束电镜中的4D-STEM分析。同时，方案可输出高质量明场和暗场成像数据，满足从晶体取向、结构信息到局部区域分析的多维表征需求。
针对纳米晶、纳米氧化物及超大变形样品，用户可结合扫描电镜或双束电镜平台开展微区晶体学分析。对于增材制造材料和复杂变形材料，同轴TKD能够辅助识别局部晶粒结构、取向变化及相应晶体学特征，为材料工艺优化、失效分析和新材料研发提供数据支持。高速采集与低电子剂量能力，则有助于兼顾分析分辨率、测试效率和样品完整性。
布鲁克(北京)科技有限公司是布鲁克集团在中国的全资子公司，面向高等院校、科研院所、生物医药、工业制造、材料、半导体及政府检测机构等客户，提供科学分析仪器、配套软件、应用方案定制与全周期技术服务。公司在北京设有培训及应用演示中心，并通过北京、上海、广州等地及多地维修服务网络，为用户提供安装调试、应用培训、维修维护和技术支持。