布鲁克(北京)科技有限公司围绕高分辨衍射研究场景，提供以D8 DISCOVER、D8 ADVANCE为代表的X射线衍射解决方案。其中，D8 DISCOVER搭载EIGER2 R 250K和500K二维探测器，支持粉末、薄膜、块状材料及外延多层薄膜等样品分析，帮助科研院所、材料企业和工业实验室提升结构表征效率与数据质量。
在新材料、半导体、能源材料和工业制造等领域，用户通常面临样品类型复杂、微区信号弱、薄膜与多层结构难以表征，以及不同测试模式切换效率不足等问题。高分辨衍射技术能够从晶体结构、晶相组成、残余应力、织构和薄膜界面等维度提供分析依据，为材料研发、工艺优化和质量控制提供数据支持。
D8 DISCOVER采用模块化光学与探测器配置，配备MONTEL光学器件的IµS微焦源，可提供高强度、小尺寸X射线束，适用于小范围和小样品研究。其UMC样品台支持最大300mm样品区域和最大5kg样品重量，可满足大区域扫描与高通量筛选需求。EIGER2 R二维探测器拥有最高50万像素，支持0D、1D和2D数据采集，并可在快照、步进、连续及高级扫描模式之间切换。
在光路配置方面，D8 DISCOVER可通过TRIO Optics在粉末Bragg-Brentano聚焦几何、高强度平行光束Kα1,2几何和外延薄膜高分辨率平行光束Kα1几何之间自动切换；PATHFINDER Plus Optics则支持电动狭缝与分光晶体切换。结合DIFFRAC.SUITE软件，系统可覆盖定性与定量相分析、微应变与微晶尺寸分析、X射线反射率、掠入射衍射、高分辨衍射、面内衍射、残余应力、织构、WAXS和SAXS等应用，减少多类样品测试中的重复配置工作。
D8 ADVANCE则面向常规粉末衍射、定量相分析、非环境XRD、织构分析、残余应力分析、X射线反射率测试和外延薄膜的高分辨测试等场景，配置多达90位自动进样器，并支持动态光束优化和多种光路自动切换。全国众多高等院校学院、技术中心及科研机构实验室已使用布鲁克衍射仪开展材料与晶体结构研究，为科研测试和实验室分析提供仪器基础。
布鲁克(北京)科技有限公司是布鲁克集团在中国的全资子公司，面向高等院校、科研院所、生物医药、工业制造、材料、半导体、食品安全及政府检测机构等客户，提供科学分析仪器、配套软件、应用方案与全周期技术服务。公司在北京设有总部，并在上海、广州设立分公司；依托本地化应用工程师团队、备品备件体系、维修服务站和培训及应用演示中心，为客户提供安装调试、现场培训、维修维护和技术支持。