布鲁克(北京)科技有限公司围绕扫描电镜、双束电镜及透射电镜微区表征需求，构建覆盖元素、成分、晶体学与缺陷分析的电镜解决方案，助力高校科研院所、半导体、材料及工业制造客户提升纳米尺度检测效率与数据质量。
随着半导体、新能源、先进金属和纳米材料研发向微观结构演化，客户不仅需要观察样品形貌，还需要同步获取元素组成、晶体取向、物相及缺陷信息。传统电镜分析在低电压检测、复杂表面形貌、样品漂移和大变形材料表征等场景中，仍面临信号弱、效率低和分析维度不足等问题。
针对上述需求，布鲁克(北京)科技有限公司提供多类型电镜附件及微区分析产品。XFlash 7200 Fire采用无窗设计，能量分辨率优于126eV，四通道输出计数率高于2,400,000cps，空间分辨率优于10nm，适用于低能X射线、轻元素及半导体样品分析。FlatQUAD系列立体角大于1.1sr，可从铍元素探测至锎元素，适合复杂表面、纳米结构及束流敏感样品的能谱分析。元素分析方面，XFlash 7支持最高1,000,000cps输出计数率与实时元素面分布，可覆盖扫描电镜、双束电镜和透射电镜的常规元素分析需求。
在晶体学分析方面，eWARP TKD采用直接电子探测同轴TKD技术，空间分辨率优于1.5nm，最快采集速度达5700fps，可用于纳米晶、纳米氧化物及大变形样品分析。eWARP EBSD在5kV条件下采集速度可达14000fps，配备布鲁克自主研发芯片及防碰撞传感器，适用于增材制造、纳米晶和大变形材料的EBSD分析。XFlash 7则支持最高1,000,000cps输出计数率与实时元素面分布，可覆盖扫描电镜、双束电镜和透射电镜的常规元素分析需求。
面向扫描电镜上的痕量元素检测，XTrace可使电镜具备10ppm级元素分析能力，并可配合快速样品台开展高速大面积元素分析。通过元素能谱、晶体学、微区荧光和三维结构表征的组合，客户可在同一分析体系中完成成分确认、物相识别、取向分析和缺陷定位，减少样品转移与重复测试，提升研发及失效分析效率。
在实际应用中，该方案可服务于半导体缺陷检测、动力电池材料分析、复合材料研究、矿物成分表征、增材制造组织分析以及生物样品微区检测。布鲁克(北京)科技有限公司同时提供应用支持、技术培训、安装调试、维修维护及软件配套服务，帮助用户建立从样品制备、数据采集到结果分析的完整工作流程。
布鲁克(北京)科技有限公司是全球高端科学分析仪器厂商布鲁克集团在中国的全资子公司，面向生命科学、制药、材料、半导体、食品安全及临床诊断等领域，提供X射线分析、电子显微分析及相关软件与技术服务。公司在北京设总部，并在上海、广州设立分公司，业务覆盖国内各省市，致力于以高精度分析解决方案支持科研创新、工业质控与材料研发。