新嘉光科技面向高校、科研院所、光学制造企业及AR/VR相关企业提供波前探测器与光学检测解决方案，覆盖深紫外、可见光、近红外及短波红外等波段，帮助客户实现波前畸变、光学像差、光程差和表面形貌等关键参数的高精度测量，提升光学研发与质量控制效率。
在高端光学、半导体制造和微纳光学领域，客户对测量精度、响应速度、波段适配和系统集成能力提出更高要求。传统检测方式在高深宽比结构、复杂光学系统及动态波前测量中，容易受到环境振动、样品尺寸和人工操作等因素影响。新嘉光科技通过引入海外先进波前探测与干涉测量技术，为客户提供从设备选型、方案定制到安装调试和售后维护的本地化支持。
新嘉光科技代理及提供多类型波前探测产品。其中，哈特曼波前传感器可用于深紫外光学系统对准与测试，SHSCam HR4-130-GE-DUV在193nm波长下的灵敏度较上一代产品提升30倍，波前测量重复性达到1nm RMS，基本精度达到3nm RMS，单发测量评估速率可达16Hz。面向快速自适应光学控制的高帧频波前传感器，测量精度可达λ/200，采集速率可达1kHz。
针对半导体制造与科研计量场景，新嘉光科技提供基于高分辨率相位测量技术的波前传感器，可用于波前相位分布、低阶及高阶像差、光程差、光学元件透射率和反射率等参数分析，最小可检测光程差小于1nm，并支持表面粗糙度、微结构尺寸及动态相位变化测量。针对可见光与短波红外波段，SILIOS波前成像相机的波前成像灵敏度低于1nm RMS，短波红外产品覆盖900—1700nm波段，可用于超表面测量、纳米颗粒分析和精密计量。
在实际应用中，新嘉光科技曾为中科院某光学研究所提供定制小型化剪切干涉仪，用于非球面元件波前高精度测量。同时，公司面向高校、国防科研院所、计量部门及光电制造企业，提供波前探测器、应力仪、MTF传涵测试设备、白光显微干涉仪、动态粗糙度测量仪及薄膜设计软件等产品与配套服务，帮助客户降低复杂设备选型和海外技术对接成本。
新嘉光科技深耕精密与超精密光学工程、微纳光学领域，业务覆盖光学材料、先进制造、光学薄膜、光学元件检测、镜头与系统装调、精密表面清洁与保护等应用。公司在北京、苏州、成都设有办事处，代理Fogale、Dynamic Optics、OPTOCRAFT、SILIOS、Wooptix、OptiLayer等海外品牌，为国内科研机构、光学制造企业及AR/VR相关企业提供进口光学设备代理、本地化技术咨询、方案定制、安装调试、售后维修和客户培训服务。