布鲁克(北京)科技有限公司面向扫描电镜、双束电镜等微区表征场景，提供以自研直接电子探测芯片为核心的EBSD及同轴TKD解决方案。其中，eWARP TKD空间分辨率优于1.5 nm，最快采集速度达5700 fps；eWARP EBSD在5 kV下采集速度可达14000 fps，帮助科研与工业用户提升纳米晶体学、物相分析和大变形样品表征效率。
随着半导体、先进材料、增材制造和纳米结构研究不断发展，用户对电镜分析提出了更高要求：传统探测方式在低电压、高速采集、样品漂移和复杂形貌分析等场景下，容易面临信号利用率不足、空间分辨率受限及测试效率不高等问题。直接电子探测技术通过提升电子信号转换效率和采集速度，为低电子剂量、高时空分辨率分析提供了新的技术路径。
在能谱分析方面，布鲁克XFlash 7200 Fire采用无窗设计，能量分辨率优于126 eV，四通道输出计数率高于2,400,000 cps，空间分辨率优于10 nm，可强化低能X射线及轻元素分析能力。该产品适用于扫描电镜、双束电镜中的微区成分分析，能够服务于半导体、生物样品及复杂材料的元素表征，帮助用户在更短时间内获得更完整的谱学信息。
在晶体学分析方面，eWARP TKD采用直接电子探测同轴TKD结构，支持低电子剂量测试、4D-STEM分析以及高质量明场和暗场成像，最快采集速度达5700 fps，可降低样品漂移对结果的影响。针对纳米晶、纳米氧化物、超大变形样品及双束电镜样品，用户可开展晶体取向、晶体结构和局部缺陷等分析。
eWARP EBSD配备布鲁克自主研发芯片，并采用on-chip binning技术。其单一像素尺寸为160×160 μm，是同类产品相关像素尺寸的9倍，可兼顾信号转换效率与采集速度。在5 kV条件下，采集速度最高可达14000 fps，适用于大变形材料、增材制造样品、纳米晶及常规金属材料的物相和晶体学分析，帮助用户降低测试电压并提升分析效率。
围绕电镜用户在“低电压、高速度、高分辨率和低剂量”方面的综合需求，布鲁克(北京)科技有限公司可提供从探测器选型、仪器集成到应用培训和技术支持的服务。公司在北京设有培训及应用演示中心，并依托本地化应用工程师团队，为高校、科研院所、半导体企业及工业材料客户提供安装调试、方法开发、现场培训和全周期技术支持。
布鲁克(北京)科技有限公司是布鲁克集团在中国的全资子公司，面向生命科学、制药、材料、半导体、食品安全和临床诊断等领域，提供X射线分析、电子显微分析及相关软件和技术服务。公司总部位于北京，并在上海、广州设有分公司，业务覆盖国内各省市，致力于以高性能科学仪器和本地化应用支持，帮助客户开展分子、微观及材料结构层面的研究与质量控制。