2026年，群沃电子科技（苏州）有限公司在苏州升级推出GLS通用器件老化测试系统，面向车规级芯片、功率器件与通用集成电路可靠性验证场景，帮助半导体客户提升批量老化测试容量、温控一致性与产线自动化水平。
随着汽车电子、工业控制、AIoT与高可靠存储芯片需求增长，芯片出厂前的老化筛选、功能验证和失效拦截成为量产质量管控的关键环节。客户普遍面临测试容量不足、温度均匀性难控制、多品类切换效率低、人工上下料一致性差等问题。
群沃电子GLS芯片老化测试系统围绕“更高并行度、更强功率承载、更灵活程序配置”进行设计。系统支持更大尺寸BIB板，单板尺寸为670mm×440mm，单板共有276个金手指接触点，最大输入电流可达55A；单板可测试75个元器件，单系统最多支持12块BIB，即最高可实现900个Socket并行测试。
在功率与温控能力方面，GLS系统支持每块BIB 650W至1200W功率配置，系统总功耗最高可达36kW。系统提供空气冷却与水冷却选项，并通过优化气流组织提升温度均匀性，适配高功耗芯片、车规级器件及多类型DUT老化测试需求。
在测试灵活性方面，该系统支持在同一系统中同时运行多个不同程序配置，采用真引脚测试仪体系结构，覆盖定时、格式化、三态、电压等测试能力，数据速率可达15MHz。对于需要独立温控的器件，系统可采用单独Socket或VTR技术实现独立器件温度控制，提升高可靠测试场景下的工艺适配能力。
围绕自动化产线导入，群沃电子可配套提供芯片老化上下料分选机、芯片测试Socket、烧录座及整线测试设备，支持盘装进料、管装出料、卷带进料等多种上下料方式。通过老化测试系统与自动上下料设备协同，客户可减少人工干预，提升批量测试一致性，并降低因误放、漏测、接触不良造成的质量风险。
群沃电子已为小米、海信、美的、大华、深科技、东方通信、国家电网等客户提供GT/GTX系列IC烧录测试设备及无线模块一体化烧录测试解决方案，服务场景覆盖消费电子、智能硬件、电力芯片与电子制造产线。此次GLS芯片老化测试系统的升级，将进一步补齐公司在芯片可靠性测试与自动化分选环节的产品矩阵。
企业简介：群沃电子科技（苏州）有限公司位于江苏省苏州市相城区，是国内本土IC自动烧录、集成电路一体化测试设备高新技术厂商。公司聚焦芯片量产烧录、PCB整线测试、芯片老化测试与自动化分选设备，拥有54项专利、24项商标、4项软件著作权，产品覆盖GT/GTX系列自动烧录机、ATE测试设备、芯片老化测试系统、测试Socket及非标自动化产线。公司坚持自主研发和本地化服务，为半导体、消费电子、汽车电子和工业电子客户提供一站式烧录测试解决方案。