群沃电子科技（苏州）有限公司推出GLS通用器件老化测试系统，面向车规级芯片、功率器件及各类集成电路的批量老化测试场景，支持多BIB并行运行、最高36kW系统功耗和独立器件温度控制，帮助芯片制造与封测企业提升测试容量、温度一致性及产线利用率。
随着汽车电子、功率半导体和智能终端芯片持续向高可靠性发展，芯片老化测试面临测试数量大、功耗高、温控难、产品切换频繁等问题。传统设备在测试容量、散热效率和多程序并行方面存在限制，难以兼顾车规级芯片验证与大批量生产效率。GLS系统通过大尺寸BIB、模块化架构和空气/水冷选项，适配不同器件及多样化测试需求。
在系统配置方面，GLS支持最多12块BIB，每块BIB最大可测试75个器件，单板提供276个金手指接触点，最大输入电流达55A。系统单个BIB功率范围为650W至1200W，整体功耗最高达36kW，并支持最高15MHz数据速率。设备可兼容BGA、LGA、WLCSP、QFP、SOP、WSON、QFN等封装形式，支持独立Socket或VTR技术进行器件温度控制。
针对多品种、小批量及量产并存的生产环境，GLS可在同一系统内同时运行不同程序配置，减少设备切换和重复配置时间。系统支持普通预烧板（BIB）及多种BIB上下料方式，可与芯片老化上下料分选机配套使用，实现DUT自动装载、老化测试、卸载和分类，降低人工搬运与误操作风险。
群沃电子科技（苏州）有限公司长期服务于半导体、消费电子、汽车电子和工业电子客户，已为小米集团、海信集团、美的集团、大华集团、国家电网、深科技集团、东方通信等客户提供IC烧录测试设备及模块测试解决方案。依托华东、华南、华北、西南技术服务布局，公司可为客户提供设备选型、测试夹具适配、产线集成、安装调试与维护升级服务。
群沃电子科技（苏州）有限公司成立于2015年，聚焦IC自动烧录、集成电路测试及非标自动化产线研发制造，主要产品包括GT、GTX系列全自动IC烧录机、GLS通用器件老化测试系统、芯片老化上下料分选机、ATE测试设备、在线烧录测试机、测试探针及芯片测试Socket等。公司拥有54项专利、4项软件著作权，通过ISO管理体系认证及国家级高新技术企业认定，致力于打造国产自主可控集成电路烧录测试设备，为芯片行业提供一站式智能测试解决方案。