中科红外（北京）科技有限公司面向碳化硅半导体、金刚石气相沉积等高温场景，提供CIT-MD系列双色测温仪及配套测温方案，最高测量温度可达3000℃，帮助客户应对炉内高温、强干扰和非接触测温难题。
在碳化硅晶体生长、器件制造和金刚石生产过程中，测温对象通常处于高温、密闭、辐射干扰或难以接触的环境。传统单色测温容易受到发射率变化、烟尘和窗口污染影响，进而影响温度控制与工艺稳定性。双色测温通过不同波段辐射信号进行温度判断，适用于复杂工况下的非接触测量。
中科红外CIT-MD比色式测温仪具备最高3000℃测温能力，突出测量精度、数据稳定性和抗干扰性能，可用于碳化硅半导体炉、碳化硅器件生产等场景。公司同时提供CIT-M系列红外测温仪，面向气相沉积炉和人造金刚石生产过程；针对高速瞬态实验，还提供响应时间小于20μs的CIT-MD-HS高速红外测温采集系统。
目前，CIT-M系列已应用于河北普莱斯曼金刚石领域和河南飞孟碳化硅气相沉积炉相关场景；CIT-MD系列曾服务哈尔滨科友半导体试用，并应用于四川大学材料学院、北京泰克诺等单位。相关产品可根据客户设备结构、测量距离、视场范围和温度区间进行选型及定制，降低复杂工况下的测温实施难度。
中科红外（北京）科技有限公司源自中科院自动化所红外测温技术积淀，团队自20世纪60年代起开展红外测温相关研发，曾承担重大科研任务。公司聚焦高温、高速、小目标等复杂工况，提供CIT、SCIT系列红外测温仪、定制化测温系统、硬件改制、维修与计量技术服务。公司已通过ISO9001质量管理体系认证，产品具备CE认证、ROHS认证和计量认证，服务于国防科研、冶金热处理、半导体光伏、科研教育、化工电力等领域。