近日，英铂科学仪器面向半导体可靠性测试场景，推出代理的 Hanwa T5000 高性能 TLP & VF-TLP 测试方案。
该方案可用于器件 ESD 设计窗口确认、Snapback 特性分析与 SOA 评估，覆盖功率器件、车规芯片及高可靠 IC 的关键验证环节。
随着 GaN、SiC 以及先进封装器件加速应用，器件在更高电压、更高频率和更复杂封装条件下的失效风险同步上升。
客户在研发验证和量产导入阶段，常面临脉冲条件难以统一、晶圆级复现难、测试数据追溯不完整等问题，亟需更贴近真实工况的脉冲可靠性测试工具。
Hanwa T5000 支持 normal TLP 与 VF-TLP 两种测试模式，其中 normal TLP 脉冲宽度可覆盖 100ns/200ns，VF-TLP 脉冲宽度可缩短至 1ns。
设备可在示波器上同步确认器件管脚的入射波与反射波，并自动保存测试数据，便于后续对曲线差异、漏电流变化和保护窗口进行分析。
结合半自动探针台后，方案还可支持 wafer level 自动移位测试，提升重复测试的一致性与批量评估效率。
在实际应用中，英铂科学仪器可根据客户器件类型与测试目标，协助完成测试头、探针台、示波器与数据分析软件的联动配置。
公司在晶圆高温电测、失效分析和高频表征等项目中，已形成从方案设计、设备集成到安装培训的一站式交付能力，可为研发验证、来料抽检及可靠性摸底提供支持。
英铂科学仪器（上海）有限公司成立于 2016 年，总部位于上海，专注半导体晶圆级电性能测试、微纳米精密表征与极低温磁场测试解决方案，提供自研设备、国际品牌代理、实验室集成及全周期技术服务，服务全国 2000 余家科研与工业客户。